Trace Analysis with Nanomaterials
Trace Analysis with Nanomaterials
Autor: | David T. Pierce / Julia X. Zhao |
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Verfügbarkeit: | nur noch 3 lieferbar |
Artikelnummer: | 552547 |
ISBN / EAN: | 9783527323500 |
Produktbeschreibung
Zusatzinformation
Autor | David T. Pierce / Julia X. Zhao | Verlag | Wiley-VCH |
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ISBN / EAN | 9783527323500 | Bindung | Hardcover |
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