Newsletter

Ja, Ich möchte den Newsletter der AC Distribution & Marketing GmbH mit Neuigkeiten, Gutscheinen und Aktionen zu Musik-, Video-, Elektro-, Haushalts- und Geschenkartikeln per E-Mail erhalten. Meine Daten werden keinesfalls an Dritte weitergegeben. Die Abmeldung ist jederzeit kostenlos möglich.

  • Sie verwenden einen veralteten Webbrowser, weshalb es zu Problemen mit der Darstellung kommen kann. Bei Problemen mit der Bestellabgabe können Sie gerne auch telefonisch bestellen unter: 01805 917 917 (0,14€/min, mobil max.0,42€/min)

Nanomecanique par microscopie a force atomique en mode contact vibrant

Arinero:Nanomecanique par microscopie a
Autor: Richard Arinero
Verfügbarkeit: Auf Lager.
Artikelnummer: 1308084
ISBN / EAN: 9786131502293

Verfügbarkeit: sofort lieferbar

49,00 €
Inkl. MwSt. , zzgl. Versandkosten

Produktbeschreibung

La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux propriétés élastiques des matériaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules élastiques) à partir des images AFM. La partie théorique consiste en une mise en équation de la mécanique du levier et en l'étude des déformations élastiques du système pointe-échantillon. D'un point de vue expérimental, la réussite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force électrostatique, et d'un étalonnage de la fréquence de résonance sur des matériaux aux propriétés connues. Nous avons appliqué les méthodes précédentes pour mesurer l'élasticité des constituants sub-microscopiques de la paroi cellulaire du bois. Par un traitement mathématique des images AFM obtenues à une fréquence unique, nous avons développé une méthode qui donne directement des images de l'élasticité absolue et des pertes visqueuses.

Zusatzinformation

Autor Verlag Éditions universitaires européennes
ISBN / EAN 9786131502293 Bindung Taschenbuch

Sie könnten auch an folgenden Produkten interessiert sein

0 Kundenmeinungen

Bitte schreiben Sie uns Ihre Meinung zu: Nanomecanique par microscopie a force atomique en mode contact vibrant

  • Wenn Sie dieses Eingabefeld sehen sollten, lassen Sie es leer!